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(2006)第29号 >

Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10087/11116

Title: ソフトウエア構成管理システムによるプロセス分析と改善手法についての考察
Other Titles: A Study of Process Analysis and Improvement with Software Configuration Management System
Authors: 吉崎, 浩二
YOSHIZAKI, Kouji
Keywords: ソフトウエア開発プロセス
ソフトウエア構成管理
プロセス分析
プロセス改善
software development process
software configuration management
process analysis
process improvement
Issue Date: 28-Dec-2006
Publisher: 上武大学経営情報学部
Citation: 上武大学経営情報学部紀要. 2006, no.29, p.143-162
Jobu Daigaku Keiei Joho Gakubu kiyo (Bulletin of Faculty of Management Information Sciences, Jobu University). 2006, no.29, p.143-162
Abstract: ソフトウエア開発プロジェクトにおいて開発プロセスの実態を見る努力と見せる仕組みを築き上げていくことは管理面のみならず、技術面においても大変重要で意義のあることである。しかしながらソフトウエア工学の研究とその実践が求められた1960年代の「ソフトウエア危機」の時代から今日まで実データに基づいたソフトウエア開発プロセスの実態を見せる仕組みはまだまだ十分といえない。 オフラインでバッチ的にデータを収集し分析するケースはまま見受けられるが、オンラインで構成管理の仕組みを活用してしかも組織的な取り組みで開発プロセスの実態を見せる仕組みはまだまだ十分といえない。さらに、構成管理システムのバージョン管理に関する事例研究はいくつか報告されているが、構成管理システムに保存されたデータを分析し、プロセス改善に活用する手法については十分に研究されていない。 本論分は、センター方式によるソフトウエア構成管理システムの活用推進方法とそれにとどまらず、ソフトウエア開発プロセスの品質、コスト、開発期間の改善面に貢献できるソフトウエア構成管理システムによるプロセス分析と改善手法について提言するものである。
It is absolutely important and significant both in management and engineering to make efforts to develop a system to observe the actual status in current software development process (SDP). However, such a system to observe and analyze current status of SDP has not been thoroughly researched since the software crisis era in the 1960's. The offline or batch system has been studied to some extent, but the online and organized system, with the help of software configuration management system (SCM), has not been developed enough to observe and analyze SDP. Several studies of SCM about version management have been done. But, the study of the method to analyze the product and process data from SCM has not been given sufficient attention. This report is to propose not only a centralized approach of SCM, but also an approach to analyze and improve quality, cost and time of SDP, with the product and process data of SCM.
URI: http://hdl.handle.net/10087/11116
ISSN: 0915-5929
NII paper ID: http://ci.nii.ac.jp/naid/110006388824
Appears in Collections:(2006)第29号

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