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Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/10087/12326

Title: Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices
Other Titles: アナログ/ミクスト信号集積回路テスト技術の開発 – 半導体デバイスのテストでの品質・信頼性向上とコスト低減
Authors: Peter, SARSON
ピーター, サーソン
Keywords: LSI Test
LSI試験
Semiconductor
半導体
Analog Circuit
アナログ回路
Mixed-Signal IC
ミックスト信号集積回路
Issue Date: 30-Nov-2018
Publisher: 群馬大学理工学部
Description: 学位記番号:理工博乙11号
URI: http://hdl.handle.net/10087/12326
Academic Degrees and number: 12301乙第11号
Degree-granting date: 2018-11-30
Degree name: 博士(理工学)
Degree-granting institutions: 群馬大学
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