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タイトル: Analogue Mixed Signal Test Development – Continuous Improvement Exercise in Quality, Reliability, and Reduction in Test Cost of Semiconductor Devices
その他のタイトル: アナログ/ミクスト信号集積回路テスト技術の開発 – 半導体デバイスのテストでの品質・信頼性向上とコスト低減
著者: Peter, SARSON
ピーター, サーソン
キーワード: LSI Test
LSI試験
Semiconductor
半導体
Analog Circuit
アナログ回路
Mixed-Signal IC
ミックスト信号集積回路
発行日: 2018年11月30日
出版者: 群馬大学理工学部
内容記述: 学位記番号:理工博乙11号
URI: http://hdl.handle.net/10087/12326
学位授与番号: 12301乙第11号
学位授与年月日: 2018-11-30
学位名: 博士(理工学)
学位授与機関: 群馬大学
出現コレクション:学位論文

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