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第48巻 (2000) >

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タイトル: 電子・電子同時計測における制御システムの開発
その他のタイトル: Development of a Control System over Electron-Electron Coincidence Measurements
著者: 糸井, 勇人
釜田, 重徳
高野, 勝昌
奥沢, 誠
発行日: 2000年
出版者: 群馬大学教育学部
引用: 群馬大学教育学部紀要 自然科学編. 48, 61-74 (2000)
抄録: We have developed a system controlling over an electron-electron coincidence spectrometer consisting of two hemispherical analyzers, an x-ray source, and an electron gun. It has been confirmed, by measuring x-ray- and electron-excited Auger-electron spectra and x-ray photoelectron spectra, that this control system works reliably. Using the system, a distribution curve, leading to an Auger-photoelectron coincidence spectrum, has been measured for the time intervals between an Auger-electron and a photoelectron in Auger-photoelectron pairs, at the L3WAuger and 2p3/2 photoelectron peaks in nickel.
URI: http://hdl.handle.net/10087/825
出現コレクション:第48巻 (2000)


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